В апреле четверокурсники кафедры «Микро- и нанотехника» приборостроительного факультета (ПСФ) посетили базовое предприятие ОАО «ИНТЕГРАЛ», где узнали как историю создания холдинга в выставочном центре «ИНТЕГРАЛА», так и технологические возможности и оборудование в ГЦ «Белмикроанализ» НТЦ.
Пресс-секретарь ОАО «ИНТЕГРАЛ» Екатерина Пенза ознакомила студентов с экспозицией выставочного центра ОАО «ИНТЕГРАЛ», историей, выпускаемой продукцией и технологическими возможностями предприятия.
Директор ГЦ «Белмикроанализ» кандидат физико-математических наук Александр Петлицкий рассказал о работах, выполняемых центром по анализу конструкции и анализу отказов изделий полупроводниковой техники, аттестации технологических процессов, контролю элементного состава материалов, а также прецизионных электрофизических измерений элементов БИС и измерениях критических размеров элементов БИС. Под его руководством были проведены практические занятия по изучению вертикальной структуры интегральной микросхемы и измерению геометрических размеров топологических слоев кристалла интегральной микросхемы на растровом электронном микроскопе высокого разрешения.
Начальники секторов ГЦ «Белмикроанализ» Татьяна Петлицкая и Дмитрий Жигулин провели со студентами практические занятия по получению видеоизображения одного из топологических слоев кристалла микросхемы, проведению прецизионных электрофизических измерений элементов БИС, контролю элементного состава материалов конструкции микросхемы.
Руководитель филиала кафедры, главный конструктор ОАО «ИНТЕГРАЛ» Сергей Ефименко отметил, что у студентов проходит преддипломная практика и все их дипломные работы будут касаться технологических возможностей производств ОАО «ИНТЕГРАЛ». Уже в этом августе лучшие из них пополнят ряды инженеров-технологов холдинга.
