Научные интересы:
Экспертные методы оценки качества и качественных данных
Электроника, микроэлектроника, полупроводниковые приборы, методы их измерений и повышения качества
 
Автор и соавтор более 80 печатных работ.
Работает на кафедре с 2025 года